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如何測量可控矽的好壞

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如何測量可控矽的好壞

可以用萬用表測量三個極之間的電阻值來測量可控矽的質量。

陽極與陰極之間的正向和反向電阻在幾百千歐以上,陽極和控制極之間的正向和反向電阻在幾百千歐以上,它們之間有兩個PN接面,而且方向相反,因此陽極和控制極正反向都不通。

控制極與陰極之間是一個PN接面,因此它的正向電阻大約在幾歐至幾百歐的範圍,反向電阻比正向電阻要大。可是控制極二極體特性是不太理想的,反向不是完全呈阻斷狀態的,可以有比較大的電流通過,因此,有時測得控制極反向電阻比較小,並不能說明控制極特性不好。另外,在測量控制極正反向電阻時,萬用表應放在R10或R1擋,防止電壓過高控制極反向擊穿。

若測得元件陰陽極正反向已短路,或陽極與控制極短路,或控制極與陰極反向短路,或控制極與陰極斷路,說明元件已損壞。